主机板监控测试老化试验箱 BIM /ORT

主机板监控测试老化试验箱BIM /ORT

温度范围 35/45℃~80℃

温度稳定度 ±1.0℃

温度分布均度 ±3.0℃

升温时间 RT~80℃约需45 分钟

内箱尺寸 226W x 162H x40 D cm

外箱尺寸 322W x 223H x 67D cm

内箱材质 不锈钢光 (SUS 304)

外箱材质 钢板烤漆

主机板数量 48 片

保护装置:

 空焚防止开关1 组，,
 欠相逆相保护开关1 只，
 陶瓷E-16 保险丝一只，线
 路保险丝及全

 护套式端子

配 件:
 全景式双层强化玻璃门二片，
 六个隔层板，

电 源 AC3ψ3W220V 60Hz/ 3ψ4W380V 50Hz

用 途 主机监控测试

负 载:

主机板CPU(40W/片)加VGA CARD(40W/片)及其它,每片实际发热量120W ×48 片=5760W MAX

监控软件:

面板上可选择手,自动测试方式手动测试:由面板上键入预观看之位置即可自动扫描测

试:由位置****～48 轮流切换画面显示状况可设定扫描时间可由keypad 控制dc power

supply ATX 电源(power on/off) 可控制开与关.