测厚仪 7500 NIX atuomation
产品简介
适用于金属底材上各种涂层、镀层厚度的**检测,结合超声波涂层测厚仪、破坏式显微测厚仪、X射线测厚仪,就可以对各种样品膜厚作出**的检测,构成一个完整的膜厚测试体系
产品详细信息
适用底材 :Fe磁性底材(铁、钢)/ NFe非磁性底材(铝、锌、铜、黄铜等)
测量范围 :0.0~5000μm
分辨率 : 0.00~999μm / 1.00~5.00mm
**度 : 读值 ±1μm+2%
测量面积 :*小10x10mm2
测量半径 :凸面5mm (0.2”) / 凹面25mm (1”)
底材厚度 :Fe*薄0.2mm / NFe*薄0.05mm
温度范围 :0~60℃
适用测头 :可更换QuaNix®全系列测头
连接埠 : RS-232
电源供应 :9V碱性电池x1 (Auto power on/off)
尺寸重量 :120x60x26mm 150g
² 只要将探头与样品接触即可完成测量
² 体积轻巧,可搭配QuaNix全系列Fe-/NFe-/两用探头使用
² 可任意更换为内建式或外接式探头,无需校正就能确保高**度
² 测量范围0-5000μm,具备自动电源开启设计
² 标准配备RS232输出,可与电脑连线QuaNix software或外接打印机
² 7500M型具备3900笔记忆体模组、999段记忆区间、*大/*小/平均值统计功能