6800型贵金属检测仪 6800型

操作规格

仪器操作简便、快捷、直观！
硬件独特性:
    符合*严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式（采用滑盖设计）。探头指标高，性能好，寿命长；全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高；配备高清晰的摄像定位系统，测量更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具
激发源：
Mo靶的X光管 风冷 (无辐射）
测量点尺寸：1-2mm
样品室: 长400 mm×宽: 500mm×高: 0~90 mm样品放大成像系统
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机：选择配置
检测器：
    固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格：
    电压:100 -127或200-240V,50/60 Hz
    *大功率:120W
    *大处尺寸:550mm*450 mm*300 mm
    重量:40kg
技术指标
    分析范围：0.3%----99.99%
    测量时间：自适应
    测量精度： ± 0.2%
    测试环境：常温常态
    分析元素：Au 、Ag 、pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd
    X射线源：X射线光管
    高压器：4-50Kv
    分析：多通道模拟
    操作系统:Windows2000/Me/XP
镀层测量：
    镀层厚度范围<30µm
    可测量元素种类：Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
    *大测量层数：5层
    测量精度：0.03µm