6306型贵金属检测仪 6306型
产品简介
符合*严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高,性能好,寿命长;全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高
产品详细信息
操作规格
仪器操作简便、快捷、直观!
硬件独特性:
符合*严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高,性能好,寿命长;全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高
激发源:
Mo靶的X光管 风冷 (无辐射)
测量点尺寸:1-2mm
样品室:单独的样品室
软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机:选择配置
探测器:
固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的探测器和读出电路
其它规格:
电压:交流220V/50Hz
*大处尺寸:500*350*250mm
重量:30kg
技术指标
分析范围:0.3%----99.99%
测量时间:自适应
测量精度: ± 0.2%
测试环境:常温常态
分析元素:Au 、Ag 、pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd
X射线源:X射线光管
高压器:4-50Kv
分析:多通道模拟
操作系统:Windows2000/Me/XP
镀层测量:
镀层厚度范围<30µm
可测量元素种类:Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
*大测量层数:5层
测量精度:0.03µm
标准配置:
单样品腔
放大电路
高低压电源
X光管
计数器