Tecnai G² 20透射电子显微镜

 
1.LaB6灯丝或钨灯丝
2.点分辨率 0.24nm
3.放大倍数 25x - 1100kx
4.样品*大倾角 +/- 40o
5.计算机控制的全数字化电镜 

对材料特性的**认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃(10-10m)级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G2 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G2 20成为材料分析研究的重要仪器。
Tecnai G2 20可以根据不同用户的配置要求供货。标准型仪器提供了已被证实的多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(*大40o)的S-TWIN物镜, 提供样品**控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G2 20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G2 20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G2 20都能够满足日益增多的样品数量。

为满足结构生物学研究的需要，FEI公司还设计制造了配置TWIN物镜和Cryo冷冻样品台的专门系统：Sphera
主要技术特点：
- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm
- 样品*大倾角 +/- 70o
- Cryo液氮冷冻样品台及冷冻转移设备
- 全自动化的数据采集和数据处理系统