元器件测量仪(L C R 变压器测试仪)半导体参数测试仪 3522-50

品牌： HIOKI日置
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技术参数：3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，以使用方便、功能

低价及更好的功用和性能 3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，以使用方便、功能完备和*佳性价比而见长 基本参数 测量参数 |Z|，|Y|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q 测量方法 测量源：恒流10μ～100mA(AC/DC)， 或恒压10mV～5V(AC/DC). 检测： 电压，AC或DC 测量频率 DC或者1mHz～100kHz 测量量程 |Z|，|R|，X：10.00mΩ～200.00MΩ(视条件而定) θ:-180.00～＋180.00°,C: 0.3200pF～1.0000F， L: 16.000nH～750.00kH， D:0.00001～9.99999 Q: 0.01～999.99, |Y|，G，B: 5.0000nS～99.999S 基本精度 |Z|: ±0.08%rdg.，θ: ±0.05° 测量时间 |Z|的典型值 快速:5ms～慢速:828ms 显示 *大显示值99999，LCD背光功能 比较器功能 设定：上、下限值，百分比或***。 输出：3档（高，中，低）,开路集电极 外部打印 9442（搭配9443/9446/9593-01） 电源供应 100～240V，AC，50/60Hz 体积及重量 313宽×125高×290厚mm，4.5kg 附件 电源线（1），保险丝（1）