微处理板测试仪 IST6700
产品简介
1ST6700型微处理器测试仪是美国IST公司开发的一种低成本,独立的测试设备,提供基于微 处理器系统电路板的自动与手动的检测和排障功能,可对所有的8/16位微机进行真正的仿真 在线测试,用于微机和智能型仪器,自动化设备的软硬件分析和故障检测。
产品详细信息
产品特点: |
1ST6700型微处理器测试仪是美国IST公司开发的一种低成本,独立的测试设备,提供基于微 处理器系统电路板的自动与手动的检测和排障功能,可对所有的8/16位微机进行真正的仿真 在线测试,用于微机和智能型仪器,自动化设备的软硬件分析和故障检测。 8位机包括:8085,6502,Z8OA/B,8088,8031,8051,8048,8049,8748,8749,8751、 8039,6800,68U2、6809,1802 16位机包括:8086,80188,80286,68000,68010,Z8000 IST6700型测试仪的“0NEBUTT0N”测试功能:RAM提供四种选择:存储单元测试、写测试。 存储器检验,读测试。存储单元测试 通过输送方格噪声测试图形到用户指定的地址范围,执行读写功能测试。 ROM测试按用户指定的地址范围统计ROM内容。 I/O测试提供二项测试选择:I/0读,I/0写。 总线测试自动测量和显示UUT电源电压,CPU时钟,CPU内部的地址和数据总线。此测试可检 测到任意总线的“高电平粘连”或“低电平粘连”,或与其它总线短路。 总线记忆扫描能显示被探测的地址或控制线的记忆符号,若其它线与被测线粘连,此线的符 号将显示出来。 全运行“签字”分析由指定CPU地址线的低有效位到高有效位触发,在每个地址位置,发出 一个控制信号。此操作重复进行,则每个特定结点的逻辑将持续下去。用户可选择8种不同 的控制信号方式中的任意一种:(1)存储器写/读(2)I/0写/读(3)存储器和I/0写 (4)存储器 和I/0读(5)存储器写(6)存储器读(7)I/0写(8)I/O读。 部分运行“签字”分析 除地址范围由用户指定外,其它与全运行功能相同。大大减少了测 试时间和在电路上的注意力。 1ST6700的操作十分简单,上述的测试在设定后,只需按—下TESTSTART键即可完成。全部测 试,如果有任意的失败,6700将指导用户通过使用预先存储好的详细“追踪诊断”,模式一 即信号分析或总线记忆扫描测试的排障过程,指导用户操作。用户则根据显示的指令移动探 头夹,然后按下ENTER’键,6700将按要求自动执行全部的测试与探测。由于用户友好的界 面和自动探测特性,6700则无需对操作人员进行专门培训或随机附加软件就可以掌握其使 用。 性能特点:80通道的探头夹,能够探测管脚数目多、引线间距小的IC。不必对管脚计数,也 不会因滑动而导致短路。探头夹可支持SO,SOJ,PLCC和DIP等封装形式。 自学习功能,将从被测板得到的数据与预先存储在电池后备的CMOSRAM或SRAM卡中的“已知 好板”的数据进行比较。 通用手持逻辑脉冲发生器/探测笔,和探测夹一起使用,可轻松的完成“激励—响应”测 试。 示波器接口为实时显示每个被测管脚的波形提供通道。 内置可编程计数器/时钟,可以通过编程在不同情况下触发。 使用低成本的CPU Pcrsonality Pod,替代价格高昂的CPU槽口,支持绝大多数8位和16位微 处理器。 低阻抗的短路检测器,具有脉冲注入分析功能,在电路加电的情况下,根据是与电源或地短 接,鉴别任意管脚“高电平粘连”或“低电平粘连”。 循环测试可检测出周期性的错误。数字电压表连续显示被测管脚的DC电压值。 电池后备的32K CMOS RAM,提供板测试数据的存储功能,也可装备SRAM存储卡插座,无限存 储参考板的数据。 内置的可编程逻辑门限指示器,以单值图形显示不同的数字信号类型。 多通路静态指示器瞬间整个IC的静态逻辑状态。实时CPU仿真测试可达12MHz,提供可编程时 钟驱动被测板。 提供单元到单元,管脚到管脚的错误自动人追踪能力。由存储已知好板的数据,对RAM,ROM 和总线测试。总线扫描,全运行和部分运行提供元件级的自动详细诊断能力。 内置的UUT+5V,40W电源,具有自动过流保护。提供数字IC的功能测试,连接上IC测试模 块,6700成为一台功能强大的IC测试仪,可测到28管脚,产生千万个测试矢量,并使用信号 分析技术收集输出数据。 8种不同模式的信号分析。 提供常用的和功能强大的排障工具,快速而准确的隔离失效点,这些工具包括:在线电压 表、逻辑脉冲发生器/探测笔、低阻抗的短路探测器,计数器,自动定时器、实时示波器接 口。同时显示用户所需的信息,不必一一存取。 |