数模混合集成电路测试系统 ICT3000
产品简介
ICT3000VXI测试系统可测模拟集成电路、数字集成电路及数模混合集成电路。如运算放 大器、集成稳压器、D/A、A/D转换器、电压比较器、模拟开关等数模混合电路及TTL, ECL, CMOS数字电路,包括微机外围器件、静态RAM、动态RAM、EPROM和一定范围的专用集成电 路。 ICT3000VXI可测试IC器件的交流及动态参数。如:运放压摆率、转换时间、增益带宽 积等
产品详细信息
产品特点: |
ICT3000VXI测试系统可测模拟集成电路、数字集成电路及数模混合集成电路。如运算放 大器、集成稳压器、D/A、A/D转换器、电压比较器、模拟开关等数模混合电路及TTL, ECL, CMOS数字电路,包括微机外围器件、静态RAM、动态RAM、EPROM和一定范围的专用集成电 路。 ICT3000VXI可测试IC器件的交流及动态参数。如:运放压摆率、转换时间、增益带宽 积等, 可测精密运放的偏移电压(>luV,精度5uV)、偏移电流(>1pA,精度10pA)具有良好的稳 定性和测试精度。 ICT3000VXI可提供多达64管脚的测试能力,每管脚可在测试过程中动态地设制成输入门 (驱动)、输出(比较)或三态,驱动电平及比较电平可通过软件进行设置。在进行功能 测试的 过程中可动态设置输入到输出的时间延迟参数值,从而在对被测器件进行功能测试的同时 也 可对其时间参数进行测试。对64管脚都可进行直流参数的测量。 测试程序在Windows3.1/Windows98下用LabWindows/CVI环境开发的。测试系统的软 件设计遵循vxl“即插即用联盟规范”。系统利用LabWindows/CVI强大的图形编程能力和 数 字信号处理能力为用户提供了完全图形化的交互编程方式。用户只需根据器件特性更改测 试 参数,无需编写测试程序。 |
技术规格: |
ICT3000VXI测试系统技术指标: 一、管脚电路 管脚数 32PIN、64PIN 图形产生速率 *大 1Mhz/8PIN(ISA 总线速率) 定时测试精度 1Ons 定时分辨率 5ns 驱动高电平 -2V~+15V 分辨率 10mV 精度 士40mV 驱动低电平 -2V~+15V 分辨率 10mV 精度 士40mV 比较高、低电平 -2V~+15V 分辨率 10mV 精度 士40mV 二、器件电压源(单向):VS十 VS- 电压范围 分辨率 精度 VS+ 0~+40V 16.0mV 士(0.3%编程值+25mV) VS- 0~-40V l6.OmV 士(0.3%编程值+25mV) 电流范围 分辨率 精度 士 250mA 3OuA 士(0.3%量程) 士 3A(脉冲,不测流) 三、高精度双向电源:VS0,VS1,VS2,VS3: 电压范围 分辨率 精度 士10V 4.0mV 士0.3% +4mV 电流范围 分辨率 精度 >士10mA 3uA 士(0.3%量程) 四、精密测量单元(PMU) 加压测流: 电压范围 量程 分辨率 精度 士1V 1 0.05mV 士(0.25%读出值+0.5mV) 士10V 2 0.4mV 士(0.25%读出值+1。5mV) 士30V 3 1mV 士(0.25%读出值+4mV) 电流范围 量程 分辨率 精度 500nA 1 5pA 士(0.5%读出值+50pA) luA 2 0.15nA 士(0.25%量程) 10uA 3 1.5nA 士(0.25%量程) 100uA 4 15nA 士(0.25%量程) 1mA 5 150nA 士(0.25%量程) 10mA 6 1.5uA 士(0.25%量程) 250mA 7 5OuA 士(0.25%量程) 3A (脉冲) 8 10mA 士(2%量程) 加流测压: luA 1 0.4nA 士(0.5%量程) 10uA 2 4nA 士(0.3%量程) 100uA 3 40nA 士(0.3%量程) 1mA 4 400nA 士(0.3%量程) 10mA 5 4uA 士(0.3%量程) 250mA 6 200uA 士(0.3%量程) 3A (脉冲) 7 10mA 士(2%量程) |