激光平面干涉仪 PG15—J

技术规格：

1.**标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm
         不平度小于0.02μm（λ/30）。
2**标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm
         不平度小于0.03μm（λ/20）。
3.准直系统：孔径F/2.8，工作直径：D1=Φ146mm，焦距：f=400mm.
4.测微目镜：焦距f=16.7mm，放大倍数β=15X，视场角2w=40o
  成像物镜：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37
5.干涉室尺寸：260×300×190mm。
6.光源规格：激光ZN18（He-Ne）
7.仪器的外形尺寸（长×宽×高）： 350×400×720mm。
8.仪器重量：100kg

激光平面干涉仪用途：PG15-J型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。
本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的 波动性的特性。