测厚仪 X-STRATA 960
产品简介
X-STRATA960荧光镀层厚度测量仪 X-Strata960X荧光射线测厚仪,可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射…
产品详细信息
X-STRATA 960 荧光镀层厚度测量仪
X-Strata 960 X荧光射线测厚仪,可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射线管(其他测厚仪为50瓦)。比CMI900可以提高30%分析精度或者减少50%的分析时间,三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm;手动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴;固定位置样品台,*大高度230 mm更小准直器,测量更小区域:*小直径15um圆形准直器,20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM:更灵活地测量不规则样品(凹凸),在12.5~102mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点。并有自动雷射聚焦功能 一体机工作站式设计,简化设备安装,减少占用 空间。
技术参数:
元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体);*多同时15种元素定量
X射线激发:100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
(可选钼靶X射线管)
X射线检测: Xe封气正比计数器,可*多装备3种二次
滤光片
准直器: *多4种
数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动
波谱校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz
工作环境: 10-40℃、相对湿度小于98%,无冷凝水
样品台移动量: 程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm; 手
动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴
仪器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
X-Strata 960 X荧光射线测厚仪,可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射线管(其他测厚仪为50瓦)。比CMI900可以提高30%分析精度或者减少50%的分析时间,三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm;手动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴;固定位置样品台,*大高度230 mm更小准直器,测量更小区域:*小直径15um圆形准直器,20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM:更灵活地测量不规则样品(凹凸),在12.5~102mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点。并有自动雷射聚焦功能 一体机工作站式设计,简化设备安装,减少占用 空间。
技术参数:
元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体);*多同时15种元素定量
X射线激发:100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
(可选钼靶X射线管)
X射线检测: Xe封气正比计数器,可*多装备3种二次
滤光片
准直器: *多4种
数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动
波谱校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz
工作环境: 10-40℃、相对湿度小于98%,无冷凝水
样品台移动量: 程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm; 手
动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴
仪器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤