双折射测试仪 双折射测量系统

产品特点:
全自动双折射测量系统 ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ； 可同时测量延迟轴和主轴两个方向； 基于光学相位差的双折射系数显示； 一秒采样时间； 应用： 液晶显示屏膜； 聚合物膜的取向； DVD 和 CD 光学系统组件； 由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力； 某些透明材料的内部残余应力，如光学玻璃和塑料； 某些透明材料的热应力； 光弹性系数； 全自动双折射测量系统 ABR-22( 自动测量线性和周向双折射系数，高速型 ) 特点： 可同时或独立测量线性和周向双折射系数； 无需样品旋转，即可测量主轴和延迟轴的线性双折射系数、圆周双折射系数的旋转角； 一秒采样时间； 可选样品旋转台； 二维或三维显示 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ； 可全自动操作； 应用： 液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射分布 ； 液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射系数与电压的关系； 电－光学器件 ( 如： Pockel 效应、 Faraday 旋转、 Kerr 旋转等 ) ； 光学晶体研究； 聚合物膜研究； 全自动双折射测量系统 ABR-30( 超高速型 ) 特点： ABR-30 可以实现双折射系数的高速测量： 100 微秒； 维护成本极低； 二维或三维显示； 可选样品旋转台； 操作方便； 应用： 在静态和高速旋转速度下进行光学储存器件表征； 动态双折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ； 对某些透明材料的热冲击； 动态光弹性系数； 光学相位调制器；

技术指标:
测量项目: 延迟/光程差 主轴方向 
              Re        位相差
測定範囲：0～260nm   （0～150deg.） 0±90deg.
分解率：  0.01nm    （0.006deg.） 0.1deg.
          ±0.5nm     （±0.3deg.） ±0.5deg.
重复性:   +/-0.01nm    +/-0.02 °
          +/-0.1nm     +/-0.2 °     +/-0.1 °
测量时间:About 1 sec/point (including time of 
         measurement for direction angle)
Optional : It can be measured with the Range 
           0 to 180 °. Resolution(150-180 °.) 
           : +/-0.1 °.
UPPER : The 3s value for measured result with vacant sample (retardation = zero)  LOWER : The 3s value for measured result with QuarterWavePlate as the sample where s is standard deviation.