金属，半导体阻抗测定装置 TER系列
产品简介
金属，半导体阻抗测定装置 是用直流四端子法，精密地测量金属合金，半导体的电阻。
产品详细信息
金属，半导体阻抗测定装置TER系列
对于金属的相变，时效析出，再结晶反应
本装置是用直流四端子法，精密地测量金属合金，半导体的电阻。
●用途
对于金属相变，时效析出，再结晶的过程研究。
对于无形金属的再结晶的过程分析。
对于记忆形合金的研究。
测定各种半导体材料的温度VS电阻的关系。
●特长
可在定速升温，定温保持过程中测量材料电阻。
用直流四端子法进行高精度测量。
无热起电的影响。
●技术指标
|
测定温度范围 |
①-150～200℃ ②室温～*高1400℃ |
|
测定方式 |
自流四端子法 |
|
测定范围 |
100Ω～5×10-5 Ω |
|
试样台 |
φ10mm×100mm |
|
测定气氛 |
不活性气体，大气，真空 |
关于我们|
易展动态|
易展荣誉|
易展服务|
易家文化|
英才集结号|
社会责任|
联系我们
备案号：粤ICP备11010883号|
公安机关备案号：44040202000312|
版权问题及信息删除： 0756-2183556
QQ：
Copyright?2004-2017 珠海市金信桥网络科技有限公司 版权所有
