涂层测厚仪 CMI200

测厚仪精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
232接口，可连接打印机或电脑
可选配90度直角探头
带有扫描测量模式
测量范围宽
NIST认证的标准片

:::: 主要技术参数: ::::::::::::::::::::::::::::::

*小测量面积     0～3000μm(F)；0～2000μm(N)
误差            ±3%
分辨率          0.1um
*小曲率半径     5mm(凸)；25mm(凹)
*小测量面积     φ20mm
*小基体厚度     0.35mm
显示            4LCD位数显
测量单位         um-mils可选
校准方式         精密两点校准
统计数据        平均值、标准偏差S、读数个数9,999
                *大值max、*小值min
接口            232串口
电源            1节9V电池
仪器尺寸        150x80x30mm
仪器重量        260

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