电子天平 Sartorius CC111
产品简介
Sartorius CC111 电子天平 全量程质量比较仪无需对中装置分置式显示电子组件标准化设计先进的MC1微处理器技术高精度的密度测定(可选)
产品详细信息
Sartorius CC111 电子天平
应用范围:0-100g
*大量程:111g
可读性:0.001mg
重复性/量程:0.003mg/100g
全量程质量比较仪无需对中装置分置式显示电子组件标准化设计先进的MC1微处理器技术高精度的密度测定(可选)
应用范围:0-100g
*大量程:111g
可读性:0.001mg
重复性/量程:0.003mg/100g
全量程质量比较仪无需对中装置分置式显示电子组件标准化设计先进的MC1微处理器技术高精度的密度测定(可选)
应用范围:0-100g
*大量程:111g
可读性:0.001mg
重复性/量程:0.003mg/100g
全量程质量比较仪无需对中装置分置式显示电子组件标准化设计先进的MC1微处理器技术高精度的密度测定(可选)
应用范围:0-100g
*大量程:111g
可读性:0.001mg
重复性/量程:0.003mg/100g
全量程质量比较仪无需对中装置分置式显示电子组件标准化设计先进的MC1微处理器技术高精度的密度测定(可选)