尼康 半导体检测设备 精密测高/厚计/晶圆检查显微镜
产品简介
精密测高/厚计 L200/L200A半导体8寸晶圆检查显微镜◆倍率:25×1500×◆ 3-8寸晶片观察 OP-300 LCD及半导体12寸晶圆大型检查显微镜◆倍率:15×-2000× ◆ LCD及12寸晶片专用 NWL-641/860半导体晶片检查输送机◆4、5、6、8寸晶片传输检查专用◆可连接L150/L150A及L200/L200A半导体显微镜 L150/L150A高倍
产品详细信息
![](http://www.zhinc.com.cn/cp/tp/cd/bdt1.gif)
精密测高/厚计
![](http://www.zhinc.com.cn/cp/tp/cd/bdt2.jpg)
L200/L200A半导体8寸晶圆检查显微镜
◆倍率:25×1500×
◆ 3-8寸晶片观察
![](http://www.zhinc.com.cn/cp/tp/cd/bdt4.jpg)
OP-300 LCD及半导体12寸晶圆大型检查显微镜
◆倍率:15×-2000×
◆ LCD及12寸晶片专用
![](http://www.zhinc.com.cn/cp/tp/cd/bdt3.jpg)
L150/L150A高倍金相显微镜
◆倍率:25×-1500×
◆3-6寸晶片及金属表面组织观察
![](http://www.zhinc.com.cn/cp/tp/cd/bdt5.jpg)
NWL-641/860半导体晶片检查输送机
◆4、5、6、8寸晶片传输检查专用
◆可连接L150/L150A及L200/L200A半导体显微镜