测量显微镜 CK15J（上海闵行、金山） CK15J

测量显微镜 CK15J

一、主要用途 
    测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极
广，主要用途如下：
1.直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽
宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等等。
2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3.用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等

二、主要技术指标

x轴移动测量范围：50毫米
y轴移动测量范围：13毫米
测微器分度值：0.01毫米
测量台转动范围：不限
测量台刻度盘分度范围：0° - 360°
测量台刻度盘之分度值：1°
测量台刻度盘游标读数示值：6'
照明方式：反射光(自然光)
测量精度：仪器值误差(5+L/15)微米
仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差。
仪器之主要尺寸：测量台与物镜间之*大距离：80毫米 
测量工作台直径：120毫米 
仪器外形尺寸：高325*长262*宽220毫米 
仪器重量级：约10.6公斤 
显微镜目镜管同棱镜成为一体绕垂轴旋转，显微镜可由调焦手轮进行上下调焦
注：测量地点温度变化(20 ± 3）C；L—被测件长度（毫米）

三 、光学参数

四、选购件
1.目镜:20X
2.物镜:4X,5X,20X,40X,60X
3.总放倍可达：1200X