冲击试样缺口投影仪BHJS-CST-50 BHJS-CST-50
产品简介
BHJS-CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器,与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,对比直观,操作简单,效率高。是理化试验室的必备专用设备。
产品详细信息
技术参数
投影屏: 200×
放大倍数: 50X
光源: 12V 100W(卤钨灯)
电源: 220V 50Hz 150W
外型尺寸: 515×224×
重量: 约