表面粗糙度轮廓测量仪 SV-C3100/SV-C4100
产品简介
SV-C3100S4带有PC和数据分析软件的SV-C3100S4特点:大幅提高的驱动速度(X轴:80mm/S,Z2轴立柱:20mm/S)进一步减少了总的测量时间。可自动测量表面粗糙度测量直线度:(0.05+0.001L)um专用于需要高精度测量的工件分辨率达:0.0001um 轮廓驱动测量:X轴精度:0.8+0.01Lum 轮廓驱动测量
产品详细信息
- 測量範圍:
X軸: 100mm, Z軸: 800µm、80µm、8µm - 解析度:X軸:0.1µm,
Z 軸: 800µm /0.01µm,80µm /0.001µm,8µm /0.0001µm - 真直度精度: (0.05+1.5L /1000)µm ,L=測定長度(mm)
- 測定力:0.4gf以下
- 測針:
觸針(鑽石): 圓錐90°
**曲率半徑: 5µm
skid(超硬) 曲率半徑: 40mm - 測定速度:
0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1,2, mm/s ; 5mm/s (回程時) - 上下移動量:250mm
- 數值輸出:RS-232C