三丰粗糙度轮廓复合测量仪SV-C3100/4100 SV-C3100/4100

特点
• 大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。
• 为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨；
• 驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

基本技术参数:
基座尺寸 (W x H): 750 x 600mm 或 1000 x 450mm
基座材料: 花岗岩
重量
　主机: 140kg (S4), 150kg (H4), 220kg (W4)
140kg (S8), 150kg (H8), 220kg (W8)
　控制器: 14kg
　遥控箱: 0.9kg
电源: 100 – 240VAC ±10%, 50/60Hz
能耗: 400W (主机)

轮廓测量技术参数:
X 轴
　测量范围: 100mm 或 200mm
　分辨率: 0.05µm
　检测方法: 反射型线性编码器
　驱动速度: 80mm/s、外加手动
　测量速度: 0.02 - 5mm/s
　移动方向: 向前／向后
　直线度: 0.8µm / 100mm, 2µm / 200mm
* 以X 轴为水平方向上
　直线位移: ±(1+0.01L)µm (SV-C3100S4, H4, W4)
　精度 (20° C 时) ±(0.8+0.01L)µm (SV-C4100S4, H4, W4)
±(1+0.02L)µm (SV-C3100S8, H8, W8)
±(0.8+0.02L)µm (SV-C4100S8, H8, W8)
* L 为驱动长度(mm)
　倾角范围: ±45°
Z2 轴 (立柱)
　垂直移动: 300mm 或 500mm
　分辨率: 1µm
　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器
　驱动速度: 0 - 20mm/s、外加手动
Z1 轴 (检测器)
　测量范围: ±25mm
　分辨率: 0.2µm (SV-C3100),
　 0.05µm (SV-C4100)
　检测方法: 线性编码器 (SV-C3100),
　 激光全息测微计 (SV-C4100)
　直线位移: ±(2+I4HI/100)µm (SV-C3100)
精度 (20° C 时) ±(0.8+I0.5HI/25)µm (SV-C4100)
*H: 基于水平位置的测量高度(mm)
　测针上／下运作: 弧形移动
　测针方向: 向上／向下
　测力: 30mN
　跟踪角度: 向上: 77° , 向下: 87°
(使用配置的标准测头，依表面粗
糙度而定)
测针针****半径: 25µm、硬质合金**

表面粗糙度测量的技术参数：
X1 轴
　测量范围: 100mm 或 200mm
　分辨率: 0.05µm
　检测方法: 线性编码器
　驱动速度: 80mm/s
　移动方向: 向后
　直线度: (0.05+1.5L/1000)µm (S4, H4, W4 型)
0.5µm/200mm (S8, H8, W8 型)
Z2 轴 (立柱)
　垂直移动: 300mm 或 500mm
　分辨率: 1µm
　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器
　驱动速度: 0 - 20mm/s、外加手动
检测器
　范围／分辨率: 800µm / 0.01µm, 80µm / 0.001µm,
8µm / 0.0001µm
(2400µm 使用测头选件)
　检测方法: 无轨／有轨测量
　测力: 4mN 或 0.75mN (低测力型)
　测针针尖: 金刚石、90º / 5µmR
(60º / 2µmR: 低测力型)
　导头曲率半径: 40mm
　检测方法: 差动电感式