XP微量天平 XP26/XP56
产品简介
超越系列**型XP微量天平——高性能微量天平。梅特勒-托利多正在改变着微量天平世界。超越系列XP微量天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差,从而为您大大节省了样品成本,尤其是在称量昂贵样品时。
产品详细信息
XP微量天平的特点:
称量性能:该系列微量天平可以提供现有分析天平具有的*高分辨率:高达无可匹敌的50,000,000位。
天平操作:触摸显示屏提供无可比拟的用户友好的操作界面。多达8个个性化设置的用户操作界面可以被自由设定、保持和恢复。
SmartSens红外感应器:无需用手接触天平就可以开关防风门,将样品放置在秤盘上。称量操作更快速、更便捷。 型号 XP26 XP56 *大称量范围 可读性 1 µg 重复性 1.5 µg 灵敏度(长时间稳定) 1x10-6/a•Rnt 灵敏度(温度取样泵漂移) 1x10-6/°C•Rnt 稳定时间(典型) 3.5s 去皮范围 - 0 外部砝码校准 可选 内部砝码校准 ProFact, 温度漂移和时间触发的全自动内校 尺寸 263x487x 称量盘上方的有效高度 接口 RS Linearity 6 µg 20ug Size of weighing pan 40x Minimum weigh (typical acc. USP) 2.1 mg Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) 0.14 mg Sensitivity offset 4x10-6·Rnt 2.5x10-6·Rnt
XP微量天平的技术参数: