元件测试仪 TH2826系列
产品简介
TH2826系列元件测试仪是国内首台符合LXI标准的新一代阻抗测试仪器,其0.1%的基本精度、20Hz ~ 5MHz的频率范围可以满足元件与材料的一切测量要求,可测量低ESR电容器和高Q电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。
产品详细信息
TH2826系列元件测试仪
性能特点
性能特点
■ 国内首台符合LXI标准的LCR表
■ 测试频率20Hz~5MHz,10mHz分辨率任意编程
■ 测试电平10mV~5V, 1mv步进
■ 基本准确度0.1%
■ *高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
广泛的测量对象无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
技术指标测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | ||
测试频率 | TH2826 | 20 Hz~5MHz,10mH步进 | |
TH2826A | 20 Hz~2MHz,10mH步进 | ||
测试信号电平 | 20Hz﹤=f﹤=1MHz | 10mV~5V,±10%±10mV | |
1MHz﹤=f﹤=5MHz | 10mV~1V,±20%±10mV | ||
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | ||
基本准确度 | 0.1% | ||
显示范围 | L | 0.0001 uH ~ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ~ 9.9999F | ||
R, X, Z, DCR | 0.0001 Ω~ 99.999 MΩ | ||
Y, B, G | 0.0001 nS ~ 99.999 S | ||
D | 0.0001 ~ 99999 | ||
Q | 0.0001 ~ 9.9999 | ||
θ | -179.99°~ 179.99° | ||
测量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30KHz),100次/s(f﹥1KHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | ||
校准功能 | 开路 / 短路点频、全频清零,负载校准 | ||
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | ||
量程方式 | 自动, 保持 | ||
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | ||
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | ||
内部直流偏置源 | 电压模式 | -5V ~ +5V, ±10%±10mV, 1mV步进 | |
电流模式(内阻为50Ω) | -100mA ~ +100mA, ±10%±0.2mA,20uA步进 | ||
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | ||
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | ||
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | ||
接口 | USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USBHOST(FAT16 and FAT32 support) | |||
LAN(LXI class C support) | |||
RS232C | |||
HANDLER | |||
GPIB(选件) |