X荧光涂镀层测厚仪 X-Strata960

赫安提供的此款超声波测厚仪性能**，能满足您不同工作环境的多种需求。

产品简介:X-Strata960(X荧光镀层测厚仪)可应用於电镀、涂层、合金、镀膜和电镀液中Ti(22)~U(92)间元素的测定和组成，100W微焦X射线管保证高分析精度和更短的量测时间。

X荧光涂镀层测厚仪适用产业:用於电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰件

· 快速、非破坏性EDXRF分析技术

· Ti22-U92多元素自动鉴别

· 高可靠、长寿命100瓦微焦点X射线管保证高分析精度和更短的分析时间

· 便捷的仪器校正，多种硬件选项满足不同形状样品和不同尺寸样品的要求

· 一体化工作站设计实现*佳的人机工程学，直观视窗软件实现便捷的操作

· 强大的数据统计、处理功能

· 测量范围宽

· NIST认证的标准片

· 全球服务及支持

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X荧光涂镀层测厚仪可应用于电镀、涂镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息的同时测定分析

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业

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X-Strata960(X荧光镀层测厚仪)主要规格 规格描述

X射线激发和检测 牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管

高分辨封气(Xe)正比计数器可获取*高的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现*佳的检出效果

数字脉冲处理 4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取*高的信号采集(每秒计数量)，从而保证*好的测量统计结果

手动或自动透镜控制 手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离

自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的*佳分析聚焦距离

自由距离测定 简化系统设置和维护

在聚焦距离范围内仅需要一个校正

对不规则样品更灵活的测量

在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可准确测量样品表面的任何一点

通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、准确的确定聚焦距离

附带自动透镜功能的自动激光聚焦 独特的、自动样品摆放系统

激光扫描单键启动

消除样品碰击Z轴的机会

改善DIM的聚焦过程

标准激光聚焦 标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响

Z轴聚焦扫描单键启动

改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程

微小准直器 仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以**化测量，并提高测量效率

备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用

多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器

大样品室设计 方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品

大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品

三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台

标准配置自动化Z轴：*大高度230mm

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X荧光涂镀层测厚仪集成化计算机 工作站式设计：改善人机工程学、方便使用

简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆减少整机占用空间

USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能

其他硬件特点 CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩**像观测

温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，保证长期的仪器稳定性

光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器长期的稳定性

坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境

一体化工作站设计实现*佳的人机工程学

可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射线管（其他测厚仪为50瓦）。比CMI900可以提高30%分析精度或者减少50%的分析时间，三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm;手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴;固定位置样品台，*大高度230 mm更小准直器,测量更小区域:*小直径15um圆形准直器，20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM：更灵活地测量不规则样品（凹凸）,在12.5~102mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点。并有自动雷射聚焦功能 一体机工作站式设计，简化设备安装，减少占用 空间。

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X荧光涂镀层测厚仪技术参数:

元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；*多同时15种元素定量X射线激发:100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管（可选钼靶X射线管）

X射线检测: Xe封气正比计数器，可*多装备3种二次

            滤光片

  准直器: *多4种

  数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动

                 波谱校正和Pulse Pile Rejection功能

   CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch

  电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz 

  工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

  样品台移动量: 程控XYZ轴：300 x 200 x 230mm; 手

  动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴

  仪器尺寸:H744 x W686 x D813 

  重量: 160公斤