金相分析仪 CY-Ⅱ
产品简介
金相分析仪:本产品适用于普通测量工具无法测量的领域,如尺寸微小的拉丝线、钻石、玻璃、化工、LED表面晶体分布情况,线路板镀层厚度,表面杂质的大小、分布情况等不规则物体,还可以绘制简单的图形。专业用于小部件或小产品的测量!低成本解决高难度测量要求。
产品详细信息
金相分析仪的详细介绍 |
产品功能: 新建文件、打开文件、保存文件、设定比例尺、系统校正、测量角度、测量线段长度、测量距离、测量图、弧及两个圆偏心、画线、圆、弧及线段之垂直线、水平线,修改线段、标注尺寸、自动检测、自动寻边、可将当前影像拍下,以BMP档案格式储存,且可移动X.Y轴向,前后左右移动桌面,避免用手移动工件造成检测误差。 产品特点: 测量方便、可以直接进行微观标注尺寸,得出测量数据,也可以直接绘图,简单、**度高、易学易懂、描边过程可以任意调整,直到满意之后,可以将所画图形输入AutoCAD中,成为完整的工程图。 金相分析仪技术参数: W×D×H 200×350×650mm *小读数 0.0001mm 测量精度:放大到400X时可达±2μm 放大到800X以上时可达±1μm 输入电压 110~240V |