梅特勒-托利多 XP型分析天平 XP205　

*大称量范围 220 g
可读性 0.01 mg
线性 0.1 mg
重复性 0.015 - 0.03 mg
灵敏度（温度取样泵漂移） 1 x 10^-6/°C •Rnt
秤盘尺寸 78 x 73 mm
去皮范围 0...220 g
偏心负载 0.2 mg
灵敏度精度 2.0 x 10^-6 •Rnt
灵敏度稳定性 1 x 10^-6/a •Rnt
稳定时间 1.5 s
防风罩可用高度 235 mm
外部砝码校准 用户砝码
内部砝码校准 ProFACT专业全自动校准技术专业级全自动校准技术, 温度漂移和时间触发的全自动内校
尺寸 263x487x322 mm (WxDxH)
接口 RS-232C
Minimum weigh (typical acc. USP) 21 mg
Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) 1.4 mg
Sensitivity offset 2x10-6·Rnt

SmartSens,无需用手接触的天平操作

SmartGrid,革新性的网格秤盘

SmartScreen彩色显示屏,触摸屏实现舒适的操作

ErgoClips易巧称量组件,可以**放置所有去皮容器

LevelControl 天平未被置平时发出警告

自动且可拆卸的防风罩

ProFACT专业全自动校准技术

RS232 通讯接口

**接口选件插槽 多种不同接口可供选择

高度可调的内部防风罩

塑料保护罩

下挂称量的专用挂钩

可分离且可调节的操作终端

随着超越系列XP天平的诞生, 梅特勒-托利多在分析天平领域树立起了又一里程碑。**的**技术带来了**的称量性能，在人员，样品和数据**方面设置了新的标准。