电子分析天平 JF2004
产品简介
JF2004电子分析天平 JF系列精密电子天平采用新开发研制的特种合金材料一次加工成形的单体传感器,通过高性能单片微处理机控制,是集精准、稳定、多功能自动化于一体的*先进的电子天平。功能特点:1.称量速度可调2.多种称量单位转换3.全量程去皮4.超载显示5.多种功能设置规格参数:称盘尺寸(mm):¢80称量范围(g):200重复性(≤±g):0.0001线性(≤±g):0.0003外型尺寸(mm)
产品详细信息
JF2004电子分析天平
JF系列精密电子天平采用新开发研制的特种合金材料一次加工成形的单体传感器,通过高性能单片微处理机控制,是集精准、稳定、多功能自动化于一体的*先进的电子天平。
功能特点:
1.称量速度可调
2.多种称量单位转换
3.全量程去皮
4.超载显示
5.多种功能设置
规格参数:
称盘尺寸(mm):¢80
称量范围(g):200
重复性(≤±g):0.0001
线性(≤±g):0.0003
外型尺寸(mm):340*
200g/0.1mg(万分之一)
JF系列精密电子天平采用新开发研制的特种合金材料一次加工成形的单体传感器,通过高性能单片微处理机控制,是集精准、稳定、多功能自动化于一体的*先进的电子天平。
功能特点:
1.称量速度可调
2.多种称量单位转换
3.全量程去皮
4.超载显示
5.多种功能设置
规格参数:
称盘尺寸(mm):¢80
称量范围(g):200
重复性(≤±g):0.0001
线性(≤±g):0.0003
外型尺寸(mm):340*
200g/0.1mg(万分之一)