3504C测试仪|日本日置HIOKI| 3504C
产品简介
3504C测试仪|日本日置HIOKI|:能简单地根据测量值进行分类 **于3504 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 高速测量:测量频率1kHz 时2ms, 120Hz 时10ms。
产品详细信息
3504C测试仪|日本日置HIOKI|:
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
基本参数 |
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不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头 | ||||||||||||||||||||||||
相位同期功能特殊式样 同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。 |
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输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件 |