美国LEE涂层测厚仪 L170+/180/1360
产品简介
美国LEE涂层测厚仪美国LEE 涂镀层测厚仪采用了世界先进的技术,是一种超小型测量仪,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量;该仪器坚固耐用、用途广泛,可单手操作。
产品详细信息
美国LEE涂层测厚仪
LEE Instruments 160/170+/180/200/360涂层测厚仪
LEE Instruments 160/170+/180/200/360涂层测厚仪
美国LEE Instruments公司设计制造
L180/L200
1. 只需调零、无需校准;
2. Fe/NFe两用探头;
3. 一体化设计;
4. 自动关机;
5. 用户校验标准过程。
L160
1. 只需调零、无需校准;
2. NFe探头;
3. 一体化设计;
4. 自动关机;
5. 用户校验标准过程。
L360/L170+
1. 只需调零、无需校准;
2. Fe大量程探头;
3. 一体化设计;
4. 自动关机;
5. 用户校验标准过程。
Lee Instruments技术参数
型号 | L170+ | L200 | L160 | L180 | L360 |
基体 | Fe | Fe/NFe | NFe | Fe/NFe | Fe |
显示 | LCD显示 | ||||
测量范围 | 0 — 1250um | 0 — 1250um | 0 — 200um | 0 — 1250um | 0 — 6000um |
测量精度 | (±3%H+1um) | ||||
显示精度 | 1um | ||||
工作温度 | -10 — +60ºC | ||||
温度补偿 | 0 — +50ºC | ||||
*小基体 | 10mm×10mm | ||||
*小曲率 | 凸半径:5mm;凹半径:25mm。 | ||||
*薄基体 | Fe:0.2mm;NFe:0.05mm。 | ||||
电源 | 7号电池4节 | ||||
重量 | 82g(不含电池) | ||||
尺寸 | 112 ×69×28mm |