JK-II型露点和微水分采样系统 JK-II型露点和微水分采样系统
产品简介
JK-II型露点和微水分采样系统，可以应用于测量压缩空气或者其它气体中的露点温度和微量水份。这个系统结构紧凑，易于使用的，具有通用特性，在应用中，它可以带显示和控制等诸多功能。
产品详细信息
JK-II型露点和微水分采样系统，可以应用于测量压缩空气或者其它气体中的露点温度和微量水份。这个系统结构紧凑，易于使用的，具有通用特性，在应用中，它可以带显示和控制等诸多功能。
JK-II型露点和微水分采样系统技术参数：
传感元件： 薄膜氧化铝传感器
传感元件： 薄膜氧化铝传感器
量 程： -110℃～+20℃
精 度： -65～40℃露点温度是±2℃
-80～-66℃露点温度是±3℃
-80～-66℃露点温度是±3℃
工作环境： 温度：-40℃～+60℃ 压力：
重 复 性： -65~40℃露点温度是±0.5℃
-80~-66℃露点温度是±1.0℃
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