X-3000 贵金属检测仪 X-3000

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产品型号:X-3000
 牌: 博智
公司名称:博智伟业有限公司(上海办事处)
  地:上海浦东
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产品简介

X-3000 贵金属检测仪  产品型号:x-3000   产品详情:       X-3000是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。 

产品详细信息

X-3000 贵金属检测仪
 
产品型号:x-3000
 
产品详情: 
     X-3000是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
 
整机技术规格
1.激发源:本机采用低功率 X 射线管(W靶),*高电压可达50KV,*大电流1mA
2.高压电源:*大50W,50KV,1mA
3.探测器:电制冷 Si PIN半导体探测器(55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于149eV)
4.多道分析器:2048道
5.软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法,理论a系数法和基本参数法。定性分析包括:KL线标记,谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法。
6.电源:交流220V  50Hz
7.体积:520mm  x  600mm  x  270mm
8.重量:约 42kg (主机)
 
整机技术性能
1.测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量
2.可测量含量范围,从ppm至100%
3.测量速度快,通常为几十秒到几分钟
4.多元素同时定性定量
5.蜂位漂移:八小时小于1%
 
进口探测器的性能指标
1.探测器类型:电制冷Si-PIN
2.探测面积:2.4x2.8mm(7mm2)
3.硅活化区厚度:300um
4.探测器分辨率: 对于55Fe,@5.9keV  对于12us的形成时间,半高宽为149Ev
5.探测器窗口:铍窗,25um厚
 
进口高压电源规格
1.电压和电流从零至满量程连续可调,*大50KV,1mA
2.电压调整率:
负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 %
线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程的0.01%
3.电流调整率:
负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%
    线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01%
4.稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05%
5.温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01%

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