X-3000 贵金属检测仪 X-3000
产品简介
X-3000 贵金属检测仪 产品型号:x-3000 产品详情: X-3000是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。
产品详细信息
X-3000 贵金属检测仪 |
产品型号:x-3000 |
产品详情: X-3000是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。 整机技术规格 1.激发源:本机采用低功率 X 射线管(W靶),*高电压可达50KV,*大电流1mA 2.高压电源:*大50W,50KV,1mA 3.探测器:电制冷 Si PIN半导体探测器(55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于149eV) 4.多道分析器:2048道 5.软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法,理论a系数法和基本参数法。定性分析包括:KL线标记,谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法。 6.电源:交流220V 50Hz 7.体积:520mm x 600mm x 270mm 8.重量:约 42kg (主机) 整机技术性能 1.测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量 2.可测量含量范围,从ppm至100% 3.测量速度快,通常为几十秒到几分钟 4.多元素同时定性定量 5.蜂位漂移:八小时小于1% 进口探测器的性能指标 1.探测器类型:电制冷Si-PIN 2.探测面积:2.4x2.8mm(7mm2) 3.硅活化区厚度:300um 4.探测器分辨率: 对于55Fe,@5.9keV 对于12us的形成时间,半高宽为149Ev 5.探测器窗口:铍窗,25um厚 进口高压电源规格 1.电压和电流从零至满量程连续可调,*大50KV,1mA 2.电压调整率: 负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 % 线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程的0.01% 3.电流调整率: 负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01% 线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01% 4.稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05% 5.温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01% |