MCU测试|MCU测试设备|MCU测试技术|MCU测试工装|MCU测试系统 MCU测试-SATE3300

1 MCU简介及发展趋势 MCU(Micr0 Controller Unit)微控制器，又称单片微型计算机简称单片机，是随着大规模集成电路的出现和发展，将计算机的CPU、RAM、ROM、定时器和多种I/O接[j集成在一片芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。 MCU按其存储器类型可分为MASK(掩模)ROM、OTP(一次性可编程)ROM、FLASH RO等类型，也可按其总线位数分为：4位、8位、16位、32位、64位等类型。目前，虽然随着生产工艺和技术的进步，32位MCU的发展势头非常迅猛，但是从市场销售来看，8位MCU的出货量占到了55％以上，仍是MCU市场的主导产品。高集成度，多功能化，低成本以及小体积是MCU的发展趋势。 现在的MCU大都集成RISC CPU CORE、ADC/DAC、ROM、FLASH、PLL电路等丰富的可供用户使用的资源。(如图1) 目前市场主流MCU已经成为一种数字、模拟混合在一起的混合信号芯片，MCU产品集成越来越多的模拟功能和新的外围电路成为MCU产品发展的重要方向，同时，这种发展趋势也对MCU的测试提出了新的要求。 2 MCU的测试技术 针对MCU集成度的提高，要求对其各功能模块的进行**测试，要求涵盖广泛的功能测试，这才能保证MCU芯片的可靠性及稳定性。 2．1 内置高性能RISC CPU的测试 内置高性能RISC CPU是MCU芯片的核心部分，低功耗高性能的RISC架构被广泛的应用于目前MCU的设计，其发展的趋势是：更高的执行指令速度，更为丰富的指令功能，更为方便实现的应用。 MCU内置具有能进行高速数据处理的CPU内核速度由早期的5 MHz提升至20 MHz以上，甚至已经达到200 MHz，MCU的高性能RISC CPU内核结构也从12或14位宽指令集扩展为16位指令集。

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