UM-2超声波测厚仪 UM-2
产品简介
UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01,超声波测厚仪具有*小厚度值捕捉模式:UM-2超声波测厚仪可选择显示当前厚度值或*小厚度值;数据存储;报警功能
产品详细信息
UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2超声波测厚仪分辨力0.01,超声波测厚仪具有*小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或*小厚度值;数据存储;报警功能
UM-2技术数据
UM-2超声波测厚仪工作原理
UM-2超声波测厚仪测量范围
|
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V路径修正
示值误差
±0.05mm (10mm以下)
显示屏
测量刷新频率
材料声速范围
数据存储
工作语言
电源
操作时间
自动关机
工作温度
尺寸
重量
标准配置 |