RX-1美国TIF卤素检漏仪 美国TIF RX-1卤素检漏仪
产品简介
RX-1美国TIF卤素检漏仪浓度分辨率7克/年,探头长度:355毫米特富龙涂层 预热时间:<2.0秒,工作环境温度:0—52摄氏度 。
产品详细信息
RX-1美国TIF卤素检漏仪技术参数:
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RX-1美国TIF卤素检漏仪简介:
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RX-1美国TIF卤素检漏仪浓度分辨率7克/年,探头长度:355毫米特富龙涂层 预热时间:<2.0秒,工作环境温度:0—52摄氏度 。
RX-1美国TIF卤素检漏仪技术参数:
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RX-1美国TIF卤素检漏仪简介:
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