hioki C,D测试器 3503
产品简介
电容值测试仪 C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量,低价、高效 定电压测量:1V(~17μF)、15mV(~170μF)、1kHz时 4ms(代表值)的高速测量 内置比较器 数台同时使用时,相位同步可能 附带同时触发输出功能
产品详细信息
基本参数 | |
测量参数 | Cs,Cp,D(tanδ) |
测量量程 | C:0.940pF~14.500mF(5位数显示) D:0.0001~1.9900 |
基本精度 | C: ±0.1%,D: ±0.0016 |
测量频率 | 120Hz或1kHz |
测量信号电平 | 500mV,1Vrms |
输出阻抗 | 0.1Ω以下 120Hz时:~145μF(CV1V),~1.45mF(CV500mV) 1kHz时:~17μF(CV1V),~170mF(CV500mV) 上述以外为5Ω |
测量时间 | 4ms(代表值,因测量条件而异) |
直流偏压 | 通过测量信号可重叠直流电压(需选件单元及外带的定电源) |
相位同步 | 使用数台时的相位同步可能 |
功能 | 触发同时输出,测量条件存储,测量值的比较,控制用输出入(EXT.I/O)、RS-232C接口,GP-IB接口(选件) |
电源供应 | 交流100~240V,50/60Hz(可选择) |
体积及重量 | 210宽×100高×168厚mm,2.5kg |
附件 | 电源线(1),保险丝(1) |