绝缘老化测量评估系统（SIR绝缘老化测试系统） SIR13

绝缘老化测量评估系统（SIR绝缘老化测试系统）使离子迁移、绝缘电阻测量及绝缘特性评价成为可能的“3Way USE型”	

绝缘老化测量评估系统（SIR绝缘老化测试系统）使离子迁移、绝缘电阻测量及绝缘特性评价成为可能的“3Way USE型”
所有频道均带有微小电流计，可以连续并高速(40ms/8ch)地进行测量，正确捕捉瞬时发生、结束的离子迁移现象。
250V计测基板为8ch/1电源，MAX达128ch,500V计测基板为1ch/1电源，max达64ch，新设计的120V计测基板可以按每1ch分别设定试验条件(施加电压、电流测量值)
可以对应力施加电压和测量电压进行任意设定，通过切换时间可避免发生测量遗漏的情况。
以往机型的测量基板也可以并用。

绝缘老化测量评估系统还可以与SIR11、12 用测量基板混合使用。
施加电压 120V•250V•500V•1KV DC
测量频道 16ch/基板（max 128ch）
*：120V、500V、1KV为8ch/基板（max 64ch）
电流测量范围 1) 320μA　~　10nA
                  2) 3.2μA　~　10pA
3) 32nA　~　1pA
迁移测量速度 40ms（8ch）