X荧光光谱仪--EDX3000B EDX3000B

能量色散光谱仪器--EDX3000B

针对ROHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂、钯等效果甚佳，
也可以测镀层厚度

技术指标
分析精度：0.05%
测量元素：从硫至铀，ROHS指令有害元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br的检出限*高达1ppm
测量对象：粉末、固体、液体
计 数 率：1300-8000cps
高    压：15-50kv
管    流：50-1000Μa
测量时间：60-300秒
相对湿度：≤70%
体    积：1000 x 1000 x 300 mm
工作电压：AC110v/220v
电制冷硅针半导体探测器
加强金属元素感度分析器

配置
单样品腔
计算机、喷墨打印机
硅针半导体探测器
放大电路
高低压电源
X光管
无真空腔体

应用范围
大学、研究机关、医药、环保、食品、电机、有色金属、水泥、钢铁等领域的研究开发和品质管理。