蒸汽老化试验箱 HQL-312
产品简介
本产品适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT100),解析度0.1℃,全自动**保护装置。
产品详细信息
特点:
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
执行与满足标准
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
用途
|
本产品适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT100),解析度0.1℃,全自动**保护装置。
特点:
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
执行与满足标准
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
用途
|