X射线镀层测厚仪校正片

X射线镀层测厚仪校正片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证，其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。

应用：适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 Beta-ray及磁感式与涡电流等多种原理之各种规格与尺寸。

特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好
　 X-Ray、 Beta-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如:
单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST认证证书）