Noiseken(噪声研究所）HBM-M 人体模型试验 (HBM) HBM-M

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产品型号：HBM-M

品牌：NoiseKen

公司名称：深圳市鑫民泰电子仪器科技有限公司

所在地：广东深圳

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产品简介

Noiseken(噪声研究所）HBM-M 人体模型试验 (HBM)
Noiseken(噪声研究所）HBM-M
特征考查实际上给电子设备安装半导体元件时，半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。

产品详细信息

Noiseken(噪声研究所）HBM-M

特征考查实际上给电子设备安装半导体元件时，半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。
半导体元件因受静电可能发生内部配线，绝缘膜的熔断，破坏等而导致产品特性裂化，误动作的现象。
对于此静电破坏试验，只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型，机器带电型的试验。还有，可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。
*适合用于进行LED,LCD, 光元件等电子部品的静电破坏耐性试验。
精密型支架

专业销售/收购/维修二手仪器设备
手机：/李汉明,曾S,Q308966

可做*高输出电压±8KV 试验（ESS-6008）
可做出留有余量的试验
可对各种间距的受测元件进行静电施加试验
可搭配精密测台，以半自动（Y 轴）的脚位移动而正确的对待
测物施加静电
可做*低试验电压±10V 的试验（ESS-6002）
对于低电压驱动元件的评价可从10V 开始以1V 的步长予施加
可对应规格

对应标准

人体模型试验 (HBM)	机械模型试验 (MM)
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003	AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001	ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002	IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002
IEC 60749-26 Ed.1.0 2003	IEC 60749-27 Ed.1.0 2003
JEDEC JESD22-A114E Jan 2007	JEDEC JESD22-A115A Oct.1997
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304	JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001
MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989