能量色散X荧光光谱仪 XR-306
产品简介
产品说明: XR-306系列能量色散X荧光分析仪完全满足欧盟RoHS指令和RoHS标准的要求,各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。 X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域,例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素如S、Pb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和痕量分析的可靠工具,在大
产品详细信息
(一)XR-306能量色散X荧光光谱仪原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为
K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα 射线,同样还可以产生Kβ射线 ,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
(二)XR-306能量色散X荧光光谱仪特点
1.无需制样即可直接测量.
2. 所有元素可以同时测量,且短短几分钟即可完成分析,可以应付大批量待测样品.
3. 检出限低,完全可以满足WEEE和ROHS指令要求.
4. 无损分析. 分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。
5. 没有人为误差,谁操作都得到一样的结果.
6. 操作简单,可以单键完成操作.
7.分析的元素范围广,从Na到U均可测定;
8.荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;
9.分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,
10、连续测试重复性极强,测试数据稳定可靠
(三)能量色散光谱分析仪与波长色散光谱分析仪的区别
能量色散分析仪只有一个探测器,它对测量X射线能量范围是不受限制的,而且这个探测器能同时测量到所有能量的X射线。也就是说只要激发样品的X射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件,对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量X射线:密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。
能量色散的条件是当样品被激发后产生的X射线通过窗口进入探测器探测器把X射线能量转换成电荷脉冲,每个X射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲,当这些电压脉冲经充分放大后,被送入脉冲处理器,脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号,由计算机进行分类,分别存入多道分析器(MCA)的相应通道内,一般使用1024-2048道MCA。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。
波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长,由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置,以满足布拉格定律的要求。 X射线荧光分析和其它光谱分析一样,也是一种相对分析。这就是说,要有一套参考标样,这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量,记录欲分析元素的强度,建立浓度(含量)、强度(CPS)校准曲线,存入处理数据的计算机,供以后分析同一类型未知样品时使用。 *简单的校准线是直线,强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。
另外由于校准线要在很长一段时间内使用,所以应对仪器的漂移作出调整,尽管这种漂移不大,但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作SUS(调整样)的特殊样品,它们含有适量的分析元素,有很好的长期稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。
产品规格:
名 称 |
X荧光光谱仪 |
型 号 |
XR-306 |
分析原理 |
能量色散X射线荧光分析法 |
分析元素 |
Na ~U任意元素, 铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)和多溴联苯醚(PBDE)中的溴。 |
技术指标 |
检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 样品形状:任意大小,任意不规则形状 样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 X射线管:靶材/Mo 管电压/5~50 kV 管电流/*大1~1000 μA 照射直径:2、5、8mm 探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器 滤光片:八种新型滤光片自动选择 样品定位:微动载物平台(选配) 样品观察:30倍彩色CCD摄像机 微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件 定量分析:理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 数据处理:IMB PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/40 系统:Windows XP正版 功率:1.1kW 重量:40Kg 外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm |
标准配置 |
标准配置:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<150eV) X光光管(寿命>15000小时) 高压电源(RSD<0.25%) 大样品仓 高精密摄像机(130万像素) Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件 计算机(P4品牌机) 打印机(爱普生彩色喷墨打印机) 测试用样品杯2个,测试用塑料薄膜数张 标 样:欧盟EC681一片、银校正标样一片。 1KVA UPS不间断电源 仪器工作台 |
工作条件 |
工作温度:10-30℃ 相对湿度:≤70% 电源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
三、仪 器 硬 件 部 分
1、 Si(PIN)半导体制冷探测器( 高灵敏度探测器)
2、低功率小型X光管为激发源(寿命大于5年)
3、美国原装进口高压电源
4、八种新型复合滤光片自动选择
塑料中检出量:
原子序数 |
元素 |
(ppm) |
|
原子序数 |
元素 |
(ppm) |
22 |
Ti |
3.0 |
|
47 |
Ag |
1.2 |
23 |
V |
2.0 |
|
48 |
Cd |
1.5 |
24 |
Cr |
2.0 |
|
50 |
Sn |
2.0 |
25 |
Mn |
1.5 |
|
51 |
Sb |
4.0 |
26 |
Fe |
1.0 |
|
80 |
Hg |
3.0 |
27 |
Co |
0.9 |
|
82 |
Pb |
3.0 |
28 |
Ni |
0.8 |
|
33 |
As |
0.9 |
29 |
Cu |
0.7 |
|
34 |
Se |
1.0 |
30 |
Zn |
0.7 |
|
35 |
Br |
1.0 |