扫描电子显微镜 ∑IGMA

    采用先进的第三代GEMINI镜筒的∑IGMA场发射扫描电子显微镜在处理所有材料方面有杰出表现。GEMINI镜筒因其操作简单，极低压成像和超稳定探测电流等优势得到广大用户的认可，同时可提供高分辨率的能谱分析和波谱分析.

    SUPRA系列电子显微镜的核心就是独特的GEMINI电子光学系统设计，打破了传统的电子光学系统设计许多局限性。在GEMINI镜筒中，电子束仅交叉一次，即在试样表面上的聚焦点处，这样就彻底消除了电子束能量发散扩大的问题。尤其在低加速电压情况下，GEMINI物镜可以提供出色的分辨率和图像质量，同时不会影响操作的方便性。   

     ∑IGMA可处理直径达250mm和高为145mm的试样，此外，理想的共面设计使得能谱分析（EDS）和背散射电子分析（EBSD）同时使用。

用途：

    扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域，进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。

技术参数:   

分辨率： 1.3nm@20KV    1.5nm@15KV      2.8nM@1KV   

放大倍数：12 - 1,000,000x   

加速电压：0.1V-30KV   

探针电流：4 pA - 20nA(4pA-40nA 可选)   

样品室：  330 mm (Ø) x 270 mm (h)   

样品台：  5轴驱动优中心全自动   

          X = 125 mm   

          Y = 125 mm   

          Z = 50mm  

          倾斜角T = 0 - 90°   

          R = 360°连续旋转   

系统控制：基于Windows XP 的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制