晶振测试仪 JT-100A
产品简介
晶振测试仪 JT-100是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。
产品详细信息
晶振测试仪
JT-100是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。
具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。
技术参数
测量范围
频率测量:A通道:1Hz~100MHz;
B通道:100MHz~1.6GHz
周期测量:A通道:10ns~1s
PPM测量:-9999~9999ppm
晶体振荡器测试座: 有贴片和插件2种可选,贴片测试座需要安装在插件测试座上方能使用。