荧光X射线膜厚仪 COSMOS-2X

荧光X射线膜厚仪
特性：

1. 采用中文窗口操作系统，操作性简便。

2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。

3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时测定、元素光谱分析。

4. 油浸式微小焦点X线管，50KV管电压，由上而下垂直照射方式。

5. 采用多频分析器，可快速处理能谱分析，可执行测定物之能谱分析表示，操作简单。

6. 滤波器:采用Co、Ni金属及数字式滤波器，可单一或同时使用。

7. 准直器：采用5种孔径一体式之Collimator(可设定任意切换方式)。

8. 彩色样品观察系统，附有＋字刻度线，清楚显示测定位置。

9. 客户、各部品番号、批号，可登录在频道内，共有300个测量频道数。

10.采用中文窗口作业软件，设计及打印测量报告，插入测量位置的彩***、非常容易。

11.可作数据统计处理及三次元之分布图案。

12.自动诊断机能，故障排除对策迅速。附有X线管的使用时间及寿命表示机能，加强保养的**性。

13.测定资料可保存在频道内，在统计项目设定后可做统计处理。

适合行业：IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。