无锡影像测量仪光学测高二次元 QV-B3020
产品简介
无锡影像测量仪光学测高二次元:QV系列光学测高二次元3D视像测量系统采用美国NAVITER 0.7-4.5X,同轴 共焦的光学设计变焦镜头,配上专为光学测量而设计的日本 WATC 1/2″CCD彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰 地显现,轮廓层次分明,**无误高性能,高清晰镜头。
产品详细信息
无锡影像测量仪光学测高二次元
1、QV系列光学测高二次元3D视像测量系统采用美国NAVITER 0.7-4.5X,同轴共焦的光学设计变焦镜头,配上专为光学测量而设计的WATC 1/2″CCD彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰地显现,轮廓层次分明,**无误高性能,高清晰镜头。
2、QV系列光学测高二次元X/Y两轴均装有分辨率为0.001mm的精度的光学尺测量系统,X/Y轴的量测精密度高达(2.0+L/200)um。
3、QV系列光学测高二次元工作台铸铁采用天然失效处理,配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨,具有超高精度。
4、QV系列光学测高二次元完善的自动寻边界及去毛刺功能,减少人为误差,提高工作效率。
技术参数:
2、QV系列光学测高二次元X/Y两轴均装有分辨率为0.001mm的精度的光学尺测量系统,X/Y轴的量测精密度高达(2.0+L/200)um。
3、QV系列光学测高二次元工作台铸铁采用天然失效处理,配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨,具有超高精度。
4、QV系列光学测高二次元完善的自动寻边界及去毛刺功能,减少人为误差,提高工作效率。
技术参数:
仪器型号
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QV-B1010
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QV-B2010
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QV-B2015
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QV-B3020
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QV-B4030
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X Y测量行程
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100*100mm
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200*100mm
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200*150mm
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300*200mm
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400*300mm
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Z轴调焦
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150mm
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150mm
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150mm
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150mm
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250mm
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载重量
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15Kg
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15Kg
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15Kg
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15Kg
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20Kg
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分辩率
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0.001/0.0005/0.0001mm
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测量精度
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(2.5+L/200)um,L=测量长度(单位:mm)
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镜头
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超低变形,美国NAVITER多段倍率同轴共焦光学设计镜头
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放大倍率
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光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率19-180X
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影像系统
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高解析度日本WCTC 1/2″彩色CCD摄像头
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重复性
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2um
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操作方式
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手动
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外形尺寸
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1000*600*1400mm
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1000*600*1400mm
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1000*600*1400mm
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1200*720*1600mm
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1200*720*1600mm
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机身重量
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100kg
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100kg
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100kg
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120kg
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200kg
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工作台底座
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工作台铸铁采用天然失效处理,配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨
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*大工件高度
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170mm
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轮廓照明
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高亮度LED照明
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表面照明
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同轴光照明,环形LED照明
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电源
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110V-240V
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