Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪 Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪

点击查看大图

产品价格： < 面议

产品型号：Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪

品牌：其它的品牌

公司名称：北京华海恒辉科技有限公司

所在地：北京海淀

浏览次数：751 次

立即询价在线咨询

产品简介

可测量厚度范围：
22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm

产品详细信息

MaXXi RoHS德国宏德金属镀层测厚仪Compact eco

德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的**。可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。

Compact 5/5PIN ：轻巧的设计，半开放式测试箱，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。Compact 5 PIN更配备了半导体电子冷却检测器，令分辨率数倍提高，可测量非常薄的镀层，满足于半导体电子工业的应用。

**性能：通过德国PTB**验证，符合德国*高**法规标准。

可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

准直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。

可选四个组合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm

50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um

特别订造

Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。