Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪 Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪

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产品型号:Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪
 牌:其它的品牌
公司名称:北京华海恒辉科技有限公司
  地:北京海淀
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产品简介

可测量厚度范围:
22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm

产品详细信息


MaXXi RoHS德国宏德金属镀层测厚仪Compact eco
 
德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的**。可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。
 
Compact 5/5PIN :轻巧的设计,半开放式测试箱,可容纳大件的PCB产品,功能强大,可配合激光自动对焦,全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。Compact 5 PIN更配备了半导体电子冷却检测器,令分辨率数倍提高,可测量非常薄的镀层,满足于半导体电子工业的应用。
 
**性能:通过德国PTB**验证,符合德国*高**法规标准。
 
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)
 
可测量厚度范围:
22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
 
准直器:0.1mm  0.3mm  0.1mm×0.3mm 。
可选四个组合:0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um
特别订造
Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。
 
自动测量功能:编程测量,自定测量
 
修正测量功能:底材修正,已知样品修正
 
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
 
镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。
 
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。
 
定性定量分析:光谱表示,光谱比较,可定性分析20多种金属元素;并可合金成份分析,可定量分析成分含量。
 
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。
 
统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图,能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。
 
 

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