镜片反射率测定仪 USPM-RUⅢ

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产品型号：USPM-RUⅢ

品牌：其它的品牌

公司名称：北京华海恒辉科技有限公司

所在地：北京海淀

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产品简介

ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。

ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。

主要用途

各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）

反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）

消除背面反射光

采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。

可测定微小领域的反射率

用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。

测定时间短

使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。

ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
　　以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。

Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能

用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。

测定波长	380nm～780nm
测定方法	与参照试料的比较测定
被测物N.A.	0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) ※与对物镜的N.A不同
被测物W.D.	10.1mm(使用10×对物镜时) 3.1mm(使用20×对物镜时)
被测物的曲率半径	-1R～-∞、+1R～∞
被测物的测定范围	约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时)
被测物再现性	±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm测定时） ±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm测定时)
表示精度	1nm
测定时间	数秒～十数秒(因取样时间各异）
光源规格	卤灯 12V100W
装置重量	本体：约20kg(电脑、打印机除外) 光源用电源：约3kg、控制器：约8kg
装置尺寸	本体：300(W)×550(D)×570(H)mm 光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm 控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm
电源规格	光源用电源：100V (2.8A)/220V　AC 控制器盒：100V(0.2A)/220V　AC
使用环境	水平且无振动的场所温度：23±5℃ 湿度：60％以下、无结露
软件	■测定参数设定保存环境文档、可读取 ■分光反射率测定设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据) 取样时间设定判定是否合格波长方向刻度 ■物体颜色测定ＸＹ色度图、Lab*色度图标准光源设定(A、B、C、D65) 视野设定(2°视野、10°视野) ■膜厚(单层膜)测定镀膜材料折射率
*作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。