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晶振测试仪 JT-100A

晶振测试仪 JT-100A 晶振测试仪 JT-100A 晶振测试仪 JT-100A
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产品型号：JT-100A
品 牌：智检系统试验仪
公司名称：深圳市智检系统有限公司
所 在 地：广东深圳
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产品简介

JT-100A晶振测试仪主要功能：频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定
JT-100A晶振测试仪用微机控制，可编程器件开发，模块化设计，100MHz同步等精度测量方式

产品详细信息

一、JT-100A晶振测试仪主要功能：频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定
 
二、JT-100A晶振测试仪主要技术指标：
  频率测量范围：0.1Hz—100MHz
频率测量灵敏度：30mv
   PPm测量：3KHz—100MHz
   PPm测量精度：≤1 PPm（1×10-6）
（可扩展0.1PPm，0.01 PPm）
  中心频率：0 Hz—100 MHz任意设定
误差设置范围设定：± 1—± 999 PPm任意设定。
  JT-100A晶振测试仪闸门设置：四档，0.01s、0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms—10s可设，
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms—10 s
晶振稳定性：5 ×10-7/日
（可选1 ×10-7/日，1 ×10-8/日）
  时基频率：OCXO--10MC
 
三、JT-100A晶振测试仪特点：
   微机控制，可编程器件开发，模块化设计
100MHz同步等精度测量方式
SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计
9位LED显示
PPm提示功能
   
四、JT-100A晶振测试仪可选配：
   晶体测量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
 40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

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