深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪 CMI233

深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪

深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪是高科技电子技术和软件的*佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应*恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。扫描选项可以补偿不平整或带有纹理的底层对测量所带来的影响，提高测量再现性。超过12,000条读数的记忆功能可以适应大使用量的应用要求。方源仪器公司提供全球范围的支持和服务。和我们的所有产品一样，深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪在售前和售后都能够得到方源器**服务的保证。

深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪图片：

深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪按键分布图说明：

产品仪器使用注意说明：

测量注意事项：

1.为了减少测量体材质对测量精度的影响。建议采用不带涂层的测量体或与测量体材质相同的标准试块作为校准用基准块。

2.测量完毕，轻按一下电源键，关断整机电源，并及时将探头用导套盖好和基准块上涂少许油脂以防生锈。

3.本仪器有自动关机功能如不进行任何操作大约一分钟后就自动关机。

4.仪器应防止剧烈震动、撞击。使用后应擦净仪器表面油污放入仪器箱内妥善保存。

5.严禁敲击或碰撞探头以免影响探头性能；严禁探头直接测量工件的表面上有油脂、污垢等。

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