横向2室全功能老化试验箱 C-112
产品简介
横向2室全功能老化试验箱
产品详细信息
C-112 用途:全方位地应对半导体封装、晶元BGA/CSP(PBGA/CABGA/LFBGA/SBGA/TABGA)/BSM/SMF等各种**烘烤工艺需求。特征:
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内 装 W580 x D650 x H500 mm 固定式两层板架 承重50Kg |
背 面 |
门机构(配门锁) |
**防冲击垫 |
数据式样: | ||||||||||||
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