德国菲尼克斯Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计 Surfix basic S
产品简介
德国菲尼克斯Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
产品详细信息
德国菲尼克斯Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
特点:
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层2.同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购