x射线膜厚仪 X-RAY XULM X-RAY XULM® XYm

产品价格: ¥300000.00
产品型号:X-RAY XULM X-RAY XULM® XYm
 牌:德国菲希尔Fischer
公司名称:苏州圣光仪器有限公司
  地:江苏苏州
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产品简介

x射线膜厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM以及XULM® XYm是应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。x射线膜厚仪又称x-ray荧光分析仪或者x-ray膜厚仪

产品详细信息

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM系列分为XULM和XULM-XYm两款,X射线光谱仪,用于细小零部件上镀层厚度的无损测量和成分分析。

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm简介

FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。

为了使每次测量都能在优的条件下进行,XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。

比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。

XULMX射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量

印制线路板上手动测量

珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析

 

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途,有以下两种不同版本型号,分别对应不同样品平台:

XULM 固定平面平台

XULM XYm 手动X/Y平台

高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能,可以定位测量位置。

尽管仪器本身结构紧凑,但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室,从而可以测量更大体积的样品。

外罩底部留下了空隙,可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品,如大面积的印制线路板等。

通过强大且界面友好的WinFTM®软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

XULM型光谱仪是型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防护措施的测量仪器。

 

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm通用规范

用途

能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析

可测量元素范围

从氯(17)到铀(92),如使用选配的WinFTM® BASIC,可多同时测量24种元素

设计理念

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

由下往上

 

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYmX射线源

X射线靶材

带铍窗口的钨靶微聚焦射线管

高压

三种可调高压:30 kV40 kV50 kV

孔径(准直器)

4个可切换准直器:

标准型(523-440):圆形Ø 0.1mmØ 0.2mm;矩形0.05 x 0.05mm0.2 x 0.03mm

可选 (523-366):圆形Ø 0.1mmØ 0.2mmØ 0.3 mm;矩形0.3 x 0.05 mm

可选 (524-061):圆形Ø 0.1mmØ 0.2mm;矩形0.3 x 0.05 mm0.05 x 0.05mm

可按要求定制其它规格

基本滤片

3种可切换的基本滤片(标准型:镍,无,铝)

测量点大小

取决于测量距离和使用的准直器的大小,视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸,使用矩形0.05 x 0.05mm准直器,小的测量点面积约为Ø 0.1 mm

测量距离,如样品为腔体时

使用保护的DCM(测量距离补偿法)功能:

测量距离为0 ~ 20 mm时,为已校准范围;

测量距离为20 ~ 27.5 mm,为非校准范围。

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYmX射线探测器

X射线接收器

比例接收器

二次滤波器

可选:钴滤波器或镍滤波器

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm样品定位

视频显微镜

高分辨 CCD彩色摄像头,可用来观察测量位置 十字线刻度和测量点大小经过校准

测量区域的LED照明亮度可调节

放大倍数

38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

 

样品台

XULM

XULM XYm

设计

固定样品平台

手动XY平台

X/Y方向大可移动范围

-

50 x 50 mm

样品放置可用区域

250 x 280mm

样品大重量

2kg

样品高度

240mm

 

X射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm电气参数

电压,频率

AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率

大为 120 W (测量头重量,不包括计算机)

保护等级

IP40

仪器规格

外部尺寸

xx[mm]395 x 580 x 510

重量

45 kg

内部测量舱尺寸

xx[mm]360 x 380 x 240

环境要求

测量时温度

10°C – 40°C / 50°F – 104°F

存储或运输时温度

0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空气相对湿度

≤ 95 %,无结露

计算系统

计算机

带扩展卡的Windows®个人计算机系统

软件

标准配置:Fischer WinFTM® LIGHT

可选配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER

执行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式许可

型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防护措施的测量仪器。

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm如有特殊要求,可与Fischer磋商,定制特殊的XULM型号。

涂装 相关仪器:涂层漆膜度测电解膜黏度计/度计X线附着微型分光雾影反射率涂膜干时间记录仪标准光源

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